FM-Nanoview 1000 AFM Atomik Kuvvet Mikroskobu

   Tarama kafası ve numune aşaması birlikte tasarlanmıştır, güçlü titreşim önleme performansı; Hassas lazer algılama ve prob hizalama cihazı, lazer ayarını basit ve kolay hale getirir; Hassas tarama alanı konumlandırmasını gerçekleştirmek için numuneye yaklaşan ucu manuel veya otomatik olarak sürmek için servo motoru uyarlayın; Yüksek- doğruluk ve geniş aralıklı numune transfer cihazı, numunenin herhangi bir ilginç alanını taramaya izin verir; Uç kontrolü ve numune konumlandırma için optik gözlem sistemi; Elektronik sistem, modüler ve bakım ve daha fazla geliştirme için kolay tasarlanmıştır; Titreşim yalıtımı, basit ve iyi performans için yay benimseyin .

Yazılım

1. Seçmek için iki çeşit örnekleme pikseli: 256 × 256, 512 × 512;

2. Tarama alanı taşıma ve kesme işlevini yürütün, herhangi bir ilginç örnek alanı seçin;

3. Numuneyi başlangıçta rastgele açıyla tarayın;

4. Lazer nokta algılama sistemini gerçek zamanlı olarak ayarlayın;

5. Palette tarama görüntüsünün farklı rengini seçin ve ayarlayın.

6. Örnek başlığı için gerçek zamanlı olarak doğrusal ortalama ve ofset kalibrasyonunu destekleyin;

7. Tarayıcı hassasiyeti kalibrasyonunu ve elektronik kontrolör otomatik kalibrasyonunu destekleyin;

8. Çevrimdışı analizi ve örnek görüntünün sürecini destekleyin.

Ana teknik parametreler